開機HI-1710A

* 關閉電源，將 HI-2623 微波爐探頭連接到 HI-1710A 前面的探頭連接器。 插入連

接器，使定位螺釘朝上。

* 將 HI-1710A 連接到交流電源。

* 打開HI-1710A正面的電源開關。 屏幕將顯示固件版本和其他 ETS-Lindgren 信息。

在此期間執行一系列自檢； 自檢完成后，探頭準備歸零。

* 將探頭置于零場環境中，然后按HI-1710A正面的ZERO。歸零完成后，HI-1710A 準

備就緒。

使用HI-1710A

檢查探頭間隔錐是否損壞、變色或污染。錐體磨損或損壞或可能嵌入錐體中的金屬

顆粒污染可能會影響精度。如有必要，更換錐體。有關部件號，請參閱第 6 頁的更

換部件和可選部件。

讓 HI-1710A 預熱至少 10 分鐘。

* 選擇測試需要的操作設置。對于正常測試或起點，請使用默認條件。要選擇設置，請

參閱第 15 頁的菜單選項、設置和命令集。

* 開始測試前將探頭調零。當烤箱在合適的負載下運行時，在烤箱表面上移動探頭，保

持探頭軸線（手柄）垂直于潛在泄漏區域。

* 握住探頭的紅色手柄以避免潛在干擾。使身體的其他部位和探頭線遠離探頭頭部附近。

模擬條形圖顯示可用于確定最高泄漏區域。在正常模式（非峰值保持）下，條形圖顯示

將跟蹤顯示的數字值并響應過濾后的 RF 信號。當儀器在峰值保持模式下操作時，條形圖

顯示不會被過濾并且對 RF 強度的變化反應非常快。掃描時可以使用峰值保持模式來捕獲

最高泄漏區域，而條形圖將連續顯示泄漏的瞬時變化。

將過濾器選擇更改為 FAST 將減少系統的響應時間。這將更有效地顯示由于模式攪拌

器或其他調制設備導致的 RF 水平快速變化的影響。在 SLOW 和 FAST 濾波器位置，響

應時間滿足 RF 測量儀器響應時間的 CDRH 要求，而 SLOW 響應特性可平滑RF 變化。

測試完成并記錄 RF 讀數后，在下一次測試之前再次將 HI-1710A 調零。零點可能會

在很長一段時間內逐漸漂移。開始測試前重新歸零。